為什么認(rèn)證和化學(xué)分析

至關(guān)重要？

與其他金屬成形工藝一樣，初始金屬粉末的成分決定了成品組件的成分和規(guī)格。雜質(zhì)的存在也會影響零件的性能和壽命，因此組件必須符合當(dāng)?shù)亍⒅莺吐?lián)邦的法定要求?；瘜W(xué)分析在確保組件符合客戶規(guī)范、法定要求和內(nèi)部質(zhì)量控制方面發(fā)揮著重要作用。

在金屬注射成型中，有三種主要的合金化方法：元素粉混合、預(yù)合金和母合金。選擇的原始金屬粉末類型取決于合金方法；通過對其進(jìn)行預(yù)混合或手動(dòng)混合以獲得正確的成分。

對于元素混合法，各種元素的粉末必須以正確的比例混合，以在合金化后產(chǎn)生正確的成分。

預(yù)合金工藝可以使用與最終合金規(guī)格的成分匹配的粉末。

母合金法使用添加了特定合金成分的元素粉末。大多數(shù)MIM不銹鋼組件和一些低合金鋼組件都是以這種方式生產(chǎn)而成。例如，由316L不銹鋼制成的MIM零件采用的方法是將一份55Cr38Ni7Mo母合金與兩份羰基鐵粉結(jié)合。

必須在成型前驗(yàn)證原始金屬粉末的成分，以確保它們符合更大產(chǎn)量和最少廢料的要求。由于合金化過程十分復(fù)雜，還必須在裝運(yùn)前檢查成品組件的成分，以確保良好的質(zhì)量和性能。這對于制作用于醫(yī)療植入物或噴氣式發(fā)動(dòng)機(jī)零件等主要應(yīng)用領(lǐng)域的組件尤為重要。這就是火花直讀光譜法（OES）真正發(fā)揮作用的方面。

OES：適用于敏感應(yīng)用領(lǐng)域

的可靠技術(shù)

直讀光譜法是檢驗(yàn)MIM零件成分的理想分析技術(shù)。它非常，這也是OES幾十年來一直用于最敏感應(yīng)用領(lǐng)域（包括全球金屬制造廠中的熔煉控制、雜質(zhì)元素和微量元素檢測）的原因。

火花OES光譜儀用于整個(gè)金屬制造過程和供應(yīng)鏈，包括分析廢金屬中的微量元素、控制進(jìn)料、冶金過程和成品質(zhì)量。我們將在本指南后文的示例中說明OES可以檢測出許多具有極低含量的元素的存在情況，這對于確保組件符合最嚴(yán)格的規(guī)范非常重要。

OES用于MIM零件測量

可靠的OES測量需要在OES測量頭接觸樣品的位置有一個(gè)干凈、平整和平坦的表面。在進(jìn)行測量之前，需要對樣品表面進(jìn)行磨樣或銑床加工（視材料成分而定）。 

由于MIM制造所得組件的尺寸通常非常小，用氮化硼蓋板減小測量位置的面積來減小板中孔的尺寸可以獲得的結(jié)果?？赡苄枰褂锰厥獾臉悠愤m配器，以便正確夾持樣品，尤其是形狀復(fù)雜的樣品。

控制金屬部件中的碳含量至關(guān)重要，因?yàn)樘紳舛鹊奈⑿∽兓紩淖兂善妨慵奈⒂^結(jié)構(gòu)和機(jī)械質(zhì)量。因?yàn)檎辰Y(jié)劑為碳基型，必須在脫粘階段完全去除它，所以尤其要注意MIM組件中的碳含量。

突破性的OE750采用全新的光學(xué)概念設(shè)計(jì)，可檢測金屬中的所有元素，包括氣體元素。通常更昂貴的儀器才具備這種性能水平，但使用動(dòng)態(tài)CMOS檢測器和將光學(xué)器件直接耦合到火花臺等創(chuàng)新技術(shù)為OE750提供了要求嚴(yán)苛的金屬注射成型應(yīng)用領(lǐng)域所需的光學(xué)分辨率。 

OE750的分析性能為碳含量控制提供了一種簡單而經(jīng)濟(jì)的解決方案。